精密量测挑战
在高端无线耳机与智能穿戴设备的制造中，防尘防水网与中框的装配间隙是决定外观精致度和声学性能的关键。然而，传统检测方案无法满足高精度量产检测的需求，面临复杂曲面与多材质干扰成像、陡峭缝隙易产生阴影盲区和微小装配公差对精度要求严苛等问题。
Gocator 4000系列解决方案
Gocator 4000系列同轴线共焦方案为高端穿戴设备的精密检测装配场景量身打造，有效攻克了高亮曲面反光与侧壁阴影盲区难题。
### 同轴光学设计
同轴光学设计实现了零阴影扫描，使光线能够检测深凹槽及陡峭构件的底部，精准提取Mesh网与中框交界处的真实3D轮廓。
### 大兼容角度
Gocator 4011的最大兼容角度达到23至85度，轻松应对高反光与多材质，在极限工况下依然能提供稳定、精准的3D测量结果。
### 高速扫描
Gocator 4000系列扫描速率高达36 kHz，在全速运转下，它依然能持续输出高质量的3D数据，满足3C消费电子和半导体产线的检测节拍。
如需了解更多关于LMI Technologies检测解决方案，可以联系我们，探讨智能3D技术的可能性。